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AKKON AOI

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AKKON AOI

3 results found for "AKKON AOI"
  • ACF导电粒子压痕+异物检查机是用于检测液晶面板Bonding段COG和FOG部位上泛起的ACF导电粒子压痕情形以及Bonding异物,,,,,,,,包括导电粒子的数目、漫衍、压痕强度、偏位、种种异物等。。。。 。 。。。其焦点手艺是运用红外和微分干预手艺,,,,,,,,接纳线扫相机对液晶面板COG、FOG上Bump区域举行光学成像,,,,,,,,通过古板图像算法和AI深度学习算法对图像举行剖析,,,,,,,,最终确认该目的检测工具是否及格。。。。 。 。。。
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  • 粒子个数复判系统用于对友商粒子压痕检查机的检测报表数据(粒子数)举行剖析,,,,,,,,对粒子数小于设定阈值的产品接纳古板图像算法和AI深度学习系统再次举行二次复判,,,,,,,,大大提高了检测准确率,,,,,,,,并将真实NG数据通过CIM上传并举行锁账。。。。 。 。。。
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  • FOF 粒子压痕检查机,,,,,,,,能清晰成像所有FOF FPC Bump,,,,,,,,机台能识别FOF FPC邦定区各Bump导电粒子,,,,,,,,凭证机台设定,,,,,,,,判断Bump导电粒子漫衍、强度(粒子清晰度)、数目,,,,,,,,可准确判断是否有压痕不良(单 Bump内切合强度的导电粒子数小于设定值)和偏移(导电粒子漫衍凌驾机台设定规模);;;;;;;; FOB 粒子压痕检查机,,,,,,,,能清晰成像所有FOB Bump,,,,,,,,机台能识别FOB 邦定区各Bump导电粒子,,,,,,,,凭证机台设定,,,,,,,,判断Bump导电粒子漫衍、强度(粒子清晰度)、数目,,,,,,,,可准确判断是否有压痕不良(单 Bump内切合强度的导电粒子数小于设定值)和偏移(导电粒子漫衍凌驾机台设定规模);;;;;;;;   FOF:FPC与FPC之间的Film on Film(以下简称FOF)手艺,,,,,,,,这通常指的是将两块或多块柔性电路板通过某种方法贴合在一起,,,,,,,,以实现更重大的电路毗连或功效集成;;;;;;;; FOB:FPC与PCB之间的Film on Board(以下简称FOB)手艺,,,,,,,,用于柔性电路板(FPC)与刚性电路板(PCB)的毗连;;;;;;;;   FOF和FOB这些手艺在电子产品的小型化、轻量化、高可靠性等方面具有主要意义。。。。 。 。。。    
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